点击图片查看原图
PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位拉伸样品杆 基于高精度压电拉伸操控，z小步长小于100nm，适用双喷或离子减薄样品，是研究金属材料、纳米材料、薄膜材料力学行为的重要工具。
技术指标
|
拉伸指标
|
|
1.拉伸位移量：0-2mm；
|
|
2.拉伸速率
：0.2um--50um/s
；
|
|
3.拉伸步长
：优于100nm
；
|
|
4.控制方式：摇杆控制或软件控制；
|
|
5.软件功能：拉伸/压缩模式、拉伸条件预设。
|
产品选型
原位拉伸样品杆
泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号原位拉伸样品杆。
原位拉伸样品杆http://www.zemtech.cn/Products-36845860.html
https://www.chem17.com/st518508/product_36845860.html